介绍
称量是实验室最常用的操作之一。微量天平、半微量天平、分析天平与精密天平的称量技术已得到了巨大的发展。通常情况下，无需特殊设计的称量室即可进行称量操作。
电子技术的发展极大地简化了天平操作，显著地缩短了称量时间，并具有良好的适应性，可直接集成在生产过程中。
然而，称量过程中不可避免的风险就是无法采取充分的措施来防止环境因素的干扰影响，通常包括影响微量天平、半微量天平与分析天平的物理因素：称量结果无法稳定(例如：缓慢挥发、吸湿)，或作用于秤盘和样品的外力(磁力，静电等)导致称量结果发生变化。
上述说明旨在解释如果需要获得非常准确的称量结果，在使用微量天平、半微量天平与分析天平时需要注意的重要事项。
天平放置位置与正确操作的简要介绍之后，我们将详细解释影响称量的干扰因素。通过显示屏上称量值的缓慢变化(漂移)，您可以察觉这些因素的影响。
由于技术参数的正确理解对于称量结果的评估同样至关重要，因此，在本手册的最后部分将对常用的技术术语进行解释。
天平的放置位置
称量结果的精确性与重现性与天平的放置位置密切相关。为了确保您的天平始终工作在最佳的状态，请遵循以下原则：
称量台
